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致新精密ZX6538精密電容測(cè)試儀ZX6538/6538A系列電容測(cè)試儀是專門針對(duì)電容器的Cs-Rs-Ls測(cè)試需求而研發(fā)的一款高速精密電容測(cè)試儀。該系列儀器體積小,操作方便,中英文操作界面可選,4.3寸彩色液晶屏幕,既能適應(yīng)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)高速檢驗(yàn)的要求,又能滿足實(shí)驗(yàn)室高精度高穩(wěn)定性的測(cè)量需要,同時(shí)儀器所提供的HANDLER接口為儀器用于電容器自動(dòng)分選系統(tǒng)提供了條件。
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產(chǎn)品分類article
相關(guān)文章品牌 | ZXP/致新精密 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致新精密ZX6538精密電容測(cè)試儀
ZX6538/6538A系列電容測(cè)試儀是專門針對(duì)電容器的Cs-Rs-Ls測(cè)試需求而研發(fā)的一款高速精密電容測(cè)試儀。
該系列儀器體積小,操作方便,中英文操作界面可選,4.3寸彩色液晶屏幕,既能適應(yīng)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)高速檢驗(yàn)的要求,又能滿足實(shí)驗(yàn)室高精度高穩(wěn)定性的測(cè)量需要,同時(shí)儀器所提供的HANDLER接口為儀器用于電容器自動(dòng)分選系統(tǒng)提供了條件。
可根據(jù)不同尺寸的電容器為客戶定制對(duì)應(yīng)的測(cè)試夾具。
●與廠家測(cè)試數(shù)據(jù)可比性高(Keysight、WK)
●鍵盤鎖定功能,掉電數(shù)據(jù)保護(hù)功能
●簡(jiǎn)體中文、英文操作語(yǔ)言
●測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件保存功能(U盤或儀器內(nèi)部)
●內(nèi)建比較器,10檔分選
●良品、不良品聲光報(bào)警
●*抗沖擊保護(hù)能力
●可通過USB接口自動(dòng)上傳數(shù)據(jù)(發(fā)明Z利)
技術(shù)參數(shù) | |||
型號(hào) | ZX6538 | ZX6538A | |
測(cè)試頻率 | 20Hz~100kHz,分辨率1mHz | 20Hz~1MHz,分辨率1mHz | |
測(cè)試參數(shù) | Cp-D,Cp-Q,Cp-Rp,Cp-G,Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs,Cs-Rs-Ls | ||
測(cè)試電平 | 10mV-1Vrms | ||
測(cè)量準(zhǔn)確度 | 0.05%,以精度表為準(zhǔn) | ||
測(cè)試速度 | 快速:40次/秒、中速18次/秒、慢速6次/秒(1kHz以上頻率) | ||
顯示范圍 | R | 0.01 mΩ ~ 99.9999MΩ | |
G | 0.00001μS~99.9999S | ||
C | 0.00001pF~9.99999F | ||
D | 0.00001~9.99999 | ||
Q | 0.01~99999.9 | ||
Δ% | -99.999%~99.999% | ||
信號(hào)源輸出阻抗 | 30Ω、100Ω | ||
內(nèi)部直流偏置電壓 | 0V、2V | ||
量程方式 | 自動(dòng)、保持 | ||
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動(dòng)、自動(dòng)、外部、總線 | ||
校準(zhǔn)功能 | 開路/短路,全頻清零、點(diǎn)頻清零 | ||
等效電路 | 串聯(lián)、并聯(lián) | ||
比較器 | 支持多檔分選,可用于自動(dòng)化設(shè)備 | ||
接口 | RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB(選件) | ||
溫度濕度 | 0℃~40℃,相對(duì)濕度≤75% | ||
電源要求 | 電壓:100~120 Vac或198~242Vac | ||
頻率:46~64 Hz,功率大于50 VA | |||
體積(WxHxD) | 310mmx115mmx315mm | ||
重量(凈重) | 4.5Kg |
●ZX6538:20Hz~100kHz,經(jīng)濟(jì)型
●ZX6538A:20Hz~1MHz,高頻電容測(cè)試儀
●電解電容器高速高精度測(cè)試
●DC-LINK、新能源汽車電容器高精度測(cè)試
●陶瓷電容器高速高精度測(cè)試
●薄膜電容器高速高精度測(cè)試
●各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試
●高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試
●半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試
●其他需要測(cè)試電容的場(chǎng)合
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