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泰克TAP1500低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負(fù)載影響降至低。 用戶應(yīng)選擇具有低輸入電容指標(biāo) （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負(fù)載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克P6245低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負(fù)載影響降至低。 用戶應(yīng)選擇具有低輸入電容指標(biāo) （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負(fù)載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克P6243低壓單端探頭 低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的甲選擇，這些測量中需要將探頭負(fù)載影響降至低。 用戶應(yīng)選擇具有低輸入電容指標(biāo) （~1 pF） 的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負(fù)載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。

泰克P6015A高壓單端探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于40 kV以地參考的信號。但是，某些單端探頭設(shè)計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量.用戶應(yīng)選擇較低輸入電容指標(biāo)（<4PF）的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負(fù)載影響，因為輸入電容較低的探頭能在更高頻率上提供更高的輸入阻抗。

泰克TPP0850高壓單端探頭 高壓單端探頭通常用于測量低于40 kV以地參考的信號。但是，某些單端探頭設(shè)計用于隔離或浮動輸入的儀器，進行非以地參考的測量.用戶應(yīng)選擇較低輸入電容指標(biāo)（<4PF）的探頭以zui大程度降低探頭對電路的負(fù)載影響，因為輸入電容較低的探頭能在更高頻率上提供更高的輸入阻抗。